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广东省科学院测试分析研究所(中国广州分析测试中心)

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中广测帮助企业解决芯片存放过程中的失效问题
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最后更新: 2025-06-03 13:59
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详细信息

芯片作为现代信息技术的基石,被誉为“现代工业的粮食”,对于国家的经济发展和科技创新具有至关重要的作用。

 

国内某芯片企业发生产品存放后失效的问题,涉及数量庞大且失效持续发生,产品交付时间紧迫,若不能及时解决,企业将面临巨大损失。企业虽反复研究但未能解决,于是向中广测寻求帮助。

 

收到企业委托后,送检样本少、时间紧等因素加大了识别失效原因以及制定针对性解决方案的困难。中广测技术人员通过整理、分析不同存放时间和存放方法对芯片的失效影响,把问题聚焦到储存箱上,推测是储存箱中的某些物质发生迁移,导致芯片失效。

 

中广测技术人员设计了产品失效分析方案,通过对不同存放时间和造成不同失效程度的储存箱进行模拟实验,对可能迁移的物质进行富集采样,将检测数据与相关文献进行比对分析,终锁定了造成芯片失效的迁移物质。

 

企业根据中广测的分析结果和改进建议调整了芯片存放方式,成功解决了芯片失效问题。中广测凭借专业精湛的技术服务,赢得了企业的认可和赞誉。

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